Единое окно доступа к образовательным ресурсам

  1. Фильтр ресурсов
  1. Отобранных ресурсов 1361

    Аудитория
    72

    111

    40

    1280

    1225

    Тип ресурса








    Уровень образования


  • Статистика фотоотсчетов фотоэлектронного умножителя: Практикум по общей физике

    http://genphys.phys.msu.ru/rus/lab/mol/234/

    Задача общефизического практикума разработана и создана на Физическом факультете МГУ коллективом сотрудников кафедры общей физики. Краткие теоретические сведения из теории вероятностей, описание экспериментальной установки для исследования фотоэлектронного умножителя (ФЭУ), упражнения, контрольные вопросы.

    Тип материала: Лабораторный практикум; | Аудитория: | Уровень образования: Высшее;

  • Институт дистанционного образования Тамбовского государственного технического университета

    http://des.tstu.ru/des/

    Тип материала: Подразделения вузов; | Аудитория: | Уровень образования: Высшее;

  • Исследование основных параметров стабилитронов: Методические указания к лабораторной работе по дисциплине "Микроэлектроника"

    Лысенко А.П.

    В методических указаниях изложена теория работы стабилитронов и рассмотрены их основные параметры. Предназначены для студентов 4 курса факультета электроники МИЭМ по специальности 200100 "Микроэлектроника и твердотельная электроника".

    Тип материала: Методические указания; | Аудитория: Учащийся; Преподаватель; | Уровень образования: Высшее;

  • Управление качеством электронных средств: Методические указания к самостоятельной работе по дисциплине

    Жаднов В.В.

    Настоящие методические указания к самостоятельной работе по дисциплине "Управление качеством электронных средств" предназначены для студентов, обучающихся по направлению подготовки "Проектирование и технология электронных средств" (специальность 654300) и содержат всю необходимую информацию для выполнения самостоятельной работы и оформления реферата.

    Тип материала: Методические указания; | Аудитория: Учащийся; Преподаватель; | Уровень образования: Высшее;

  • Теоретические основы обеспечения надежности ЭС: Методические указания к лабораторному практикуму по дисциплине

    Жаднов В.В.

    Настоящие методические указания к лабораторному практикуму по дисциплине "Теоретические основы обеспечения надежности ЭС" предназначены для магистрантов, обучающихся по направлению подготовки "Проектирование и технология электронных средств" (специальность 551100) и содержат всю необходимую информацию для выполнения лабораторного практикума и оформлению отчетов по лабораторным работам.

    Тип материала: Методические указания; | Аудитория: Учащийся; Преподаватель; | Уровень образования: Высшее;

  • Интегральные схемы на комплементарных МОП-транзисторах: Учебное пособие

    Ракитин В.В.

    В пособии рассмотрены интегральные схемы на комплементарных МОП транзисторах. Пособие состоит из трех частей: первая посвящена аналоговым, вторая - цифровым КМОП ИС, третья - аналогово-цифровым КМОП ИС. Описаны физико-технологические и конструктивно-топологические особенности КМОП-приборов и элементов на их основе. Приведены типовые схемотехнические решения, проведен расчет основных характеристик различных элементов, изложена методология проектирования КМОП ИС. Пособие предназначено для студентов высших учебных заведений, изучающих микроэлектронику, И может быть полезно широкому кругу специалистов, занимающихся разработкой ИС.

    Тип материала: Учебник, учебное пособие; | Аудитория: Учащийся; Преподаватель; Исследователь; | Уровень образования: Высшее;

  • Лазерная пайка в производстве радиоэлектронной аппаратуры

    Аллас А.А.

    В монографии рассмотрены вопросы оптимизации технологических режимов лазерной пайки с учетом свойств припойных паст для получения высокопрочных паяных соединений. Работа может быть использована как учебное пособие, восполняющее недостаток учебно-методической литературы по лазерной технике и лазерным технологиям и посвященное новому направлению лазерной технологии - лазерной пайке изделий радиоэлектронной техники. Рассмотрены физико-технические особенности формирования паяных соединений повышенной надежности в процессе автоматизированной лазерной пайки интегральных микросхем на печатные платы. Рекомендовано УМО по образованию в области приборостроения и оптотехники в качестве учебного пособия для студентов высших учебных заведений, по специальности 200201 "Лазерная техника и лазерные технологии" и специальности 200200 "Оптотехника".

    Тип материала: Монография; | Аудитория: Учащийся; Преподаватель; Исследователь; | Уровень образования: Высшее; Послевузовское;

  • Системы технологий компьютерного производства. Технология интегральных микросхем: Учебное пособие

    Лопухин В.А., Шелест Д.К.

    Рассматриваются проблемы производственных систем изготовления электронной аппаратуры. Значительная часть работы посвящена изучению технологических процессов производства микросхем. Представлены вопросы организации маршрутной технологии и сравнительные технико-экономические оценки свойств продукции. Пособие предназначено для студентов дневной и вечерней форм обучения технологических и экономических специальностей, и может быть использовано при проведении курсового и дипломного проектирования.

    Тип материала: Учебник, учебное пособие; | Аудитория: Учащийся; Преподаватель; | Уровень образования: Высшее;

  • Сверточные коды: Учебное пособие

    Никитин Г.И.

    В пособии излагаются принципы построения, формирования и обработки помехоустойчивых сверточных кодов, их определение, свойства, разновидности и эффективность, а также рассматривается реализация кодирующих и декодирующих устройств этих кодов. Приводятся примеры применения сверточных кодов в радиотехнических системах, в том числе в сотовых и спутниковых системах связи. Рассмотрен порядок выполнения лабораторной работы "Сверточные коды". Предназначено для радиотехнических специальностей всех форм обучения.

    Тип материала: Учебник, учебное пособие; | Аудитория: Учащийся; Преподаватель; | Уровень образования: Высшее;

  • Параметрическое обучение в теории распознавания образов: Учебное пособие

    Воробьев С.Н., Осипов С.С.

    Рассматривается проблема распознавания образов в радиоэлектронике, которая является ключевой при обнаружении и классификации сигналов с неизвестными характеристиками и параметрами. Задача распознавания формулируется как поиск однозначного отображения совокупности наблюдений на множество классов объектов. Теоретическая база распознавания - математическая статистика. Наблюдения преобразуются в более удобные признаки распознаваемых классов, к которым применяются методы проверки статистических гипотез и оценивания. В учебном пособии представлены многомерное нормальное распределение, сингулярное разложение корреляционной матрицы, декорреляция, вопросы создания эталонных признаков классов. Классификация по правилу минимума расстояния между наблюдаемыми и эталонными признаками интерпретируется как синтез разделяющих функций.

    Тип материала: Учебник, учебное пособие; | Аудитория: Учащийся; Преподаватель; | Уровень образования: Высшее;

Яндекс цитирования Яндекс.Метрика