Единое окно доступа к образовательным ресурсам

  1. Фильтр ресурсов
  1. Отобранных ресурсов 3

    Аудитория
    2

    2

    Тип ресурса
    Уровень образования
  • Контроль параметров микроструктуры материалов методами дифракционного анализа: Учебное пособие по курсу "Кристаллография"

    Серба П.В., Мирошниченко С.П.

    В пособии рассматриваются способы контроля параметров микроструктуры материалов методами дифракционного анализа. Приводятся основные параметры, характеристики, методика контроля. Методическое пособие предназначено для изучения курса "Кристаллография" студентами специальностей 210100 и 210600, а также может быть полезно студентам других специальностей.
    Пособие подготовлено на кафедре технологии микро- и наноэлектронной аппаратуры Таганрогского технологического института Южного федерального университета.

    Тип материала: Учебник, учебное пособие; | Аудитория: Учащийся; Преподаватель; | Уровень образования: Высшее;

  • Физика в древесиноведениее и технологии древесины

    Крюк В.И., Швамм Е.Е.

    Излагается ряд положений курса общей физики и приводятся примеры их использования в древесиноведении и технологии древесины.

    Тип материала: | Аудитория: Преподаватель; Исследователь; | Уровень образования:

  • Материалы твёрдотельной микро- и наноэлектроники: Учебное пособие

    Брусенцов Ю.А., Минаев А.М., Филатов И.С.

    Учебное пособие посвящено материалам, применяемым в микро- и наноэлектронике. Рассмотрены типы химической связи, структура и свойства полупроводниковых соединений типа AIIIBVи A2VB3VI. Представлены типы основных магнитных оксидных материалов, применяемых в микро- и наноэлектронике, основы теории перехода материалов в жидкокристаллическое состояние, используемое для создания цифровых и буквенных индикаторов.
    Предназначено для магистрантов и аспирантов, специализирующихся в области радиотехники, автоматики и телемеханики.

    Тип материала: Учебник, учебное пособие; | Аудитория: Учащийся; Преподаватель; | Уровень образования: Высшее;

Яндекс цитирования Яндекс.Метрика